當(dāng)前位置:優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司>>金屬材料檢測(cè)>>掃描電鏡測(cè)試>> 掃描電鏡測(cè)試
掃描電鏡是一種用途廣泛的科學(xué)研究?jī)x器,是通過(guò)電子束來(lái)成像的,,其放大倍數(shù)可達(dá)幾十萬(wàn)倍,分辨率可達(dá)納米級(jí)別,是形貌和成分分析領(lǐng)域極其重要的一種工具。
掃描電鏡測(cè)試原理:
掃描電鏡利用高能量電子束轟擊樣品表面,激發(fā)出樣品表面的各種物理信號(hào),再利用不同的信號(hào)探測(cè)器接受物理信號(hào)轉(zhuǎn)換成圖像信息,可對(duì)陶瓷、金屬、粉末、塑料等樣品進(jìn)行形貌觀察和成分分析。
掃描電鏡測(cè)試項(xiàng)目:
SEM:形貌觀察,利用背散射電子(BEI)和二次電子(SEI)來(lái)成像,可放大倍率5-100萬(wàn)倍 。
EDS:成分分析(半定量),通過(guò)特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息,測(cè)量Be及以上元素。
樣品要求:
1.試樣為不同大小的固體(塊狀、薄膜、顆粒),并可在真空中直接進(jìn)行觀察。
2.試樣應(yīng)具有良好的導(dǎo)電性能,不導(dǎo)電的試樣,其表面一般需要蒸涂一層金屬導(dǎo)電膜
掃描電鏡的運(yùn)用:
掃描電鏡相關(guān)測(cè)試常和切片技術(shù)結(jié)合一起做相關(guān)測(cè)試,如:
IMC觀察
錫須觀察
表面成分分析
表面異物分析
顆粒物成分分析
微觀尺寸量測(cè)
金屬鍍層/涂層厚度檢測(cè)